ASD光谱仪技术指标

● 探测器：350-1000nm, 低噪声512阵元PDA 1000-1800nm及1800-2500nm, 两个InGaAs探测器单元，TE制冷恒温； ● 波长范围：350 - 2500 nm ● 扫描时间：100ms ● 光谱平均： 高达31,800次； ● 色散元件:一个固定的两个快速旋转的全息反射光栅 ● 波长精度:0.5 nm ● 波长重复性: 0.1 nm ● 光谱分辨率: 3nm@700nm 8nm@1400/2100 ● NeDL: VNIR 1.0x10-9W/cm2/nm/sr@700nm SWIR1.4x10-9W/cm2/nm/sr/@1400nm SWIR 2.2x10-9W/cm2/nm/sr@2100nm ● 杂散光： VNIR 0.02% SWIR 1 2 0.01% ● 通道数：2151 ● 高次吸收滤色片, 内置光闸和漂移锁定自动校准功能均设置为标准配置 ● 内置光闸及DriftLockTM自动漂移修正。^[1]

ASD光谱仪主要功能

测量地物反射率。可用做测量辐射，辐照度，CIE颜色，反射和透射。^[1]