对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。

（1） 萤光X射线

（2） 散乱X射线

（3） 透过X射线

SII的产品是利用萤光X射线得到物质中的元素信息（组成和镀层厚度）的萤光X射线法原理。和萤光X射线分析装置一样被使用的X射线衍射装置是利用散乱X射线得到物质的结晶信息（构造）。而透过X射线多用于拍摄医学透视照片。另外也用于机场的货物检查。象这样根据想得到的物质信息而定X射线的种类。

简单地说萤光X射线装置（XRF）和X射线衍射装置（XRD）有何不同,萤光X射线装置（XRF）能得到某物质中的元素信息（物质构成,组成和镀层厚度）,X射线衍射装置（XRD）能得到某物质中的结晶信息。

具体地说,比如用不同的装置测定食盐（氯化钠=NaCl）时,从萤光X射线装置得到的信息为此物质由钠（Na）和氯（Cl）构成,而从X射线衍射装置得到的信息为此物质由氯化钠（NaCl）的结晶构成。单纯地看也许会认为能知道结晶状态的X射线衍射装置（XRD为好,但当测定含多种化合物的物质时只用衍射装置（XRD）就很难判定,必须先用萤光X射线装置（XRF）得到元素信息后才能进行定性。

SII的X射线装置大致可分为以下2种产品。

管理表面镀层镀层厚度测定的SFT系列（萤光X射线镀层厚度测定仪）

分析材料组成（浓度）的SEA系列（萤光X射线分析仪）