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石英微晶体分析天平
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石英微晶体分析天平是一种用于化学、材料科学领域的计量仪器,于2010年5月25日启用。
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石英微晶体分析天平
技术指标
传感器上方体积:40ml;最小样品体积:100ml工作温度:18-45°C,由软件控制,控温精度为:0.02°C流动速率:50-200ml/min传感器晶体:5MHz,直径14mm,抛光,金电极频率范围:1-70MHz时间分辨率,1个传感器、1个频率:~每秒200个数据点水中质量精度:~0.5ng/cm2(5pg/mm2)水中常规质量精度:~1.8ng/cm2(18pg/mm2)水中耗散因子精度:~0.04×10-6水中常规耗散因子精度:~0.1×10-6。
[1]
石英微晶体分析天平
主要功能
石英晶体微天平是基于石英晶体的压电效应对其电极表面质量变化进行测量的仪器。
[1]
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