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可程序PCT老化试验箱设备应用
可程序PCT老化试验箱（又名PCT老化试验箱）用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，PCT用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药、化工、多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等等行业相关之产品作加速老化寿命试验，使用于在产品的设计阶段，用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节[1] 。
可程序PCT老化试验箱设备优势
1.优化设计,美观大方，做工精细。
2.采用大容量水箱,试验时间长,不中断。
3.采用进口“SHIMAX”智能温控器，具有精度高，控制稳定特点（依客户需要也可选择采用触摸屏为4.3寸真彩屏，USB曲线数据下载功能，和通讯功能）。
4.PCT老化试验箱的水路配电盘分离，确保设备稳定可靠安全。
5.采用高效真空泵，使箱内达到纯净饱和蒸汽状态。
6.多项安全保护措施,故障报警显示及故障原因和排除方法功能显示。
相比其他同行设备：1.做工略显粗糙。
2.设备水箱容量小，无法长时间运行。
3.单一按键式控制器，功能少，精度低。
4.水路配电盘不分离，容易造成安全隐患。
5.基本不采用真空功能，箱内饱和蒸汽洁净度低，会影响试验的效果。
6.设备的安全保护措施单一，非常容易造成安全隐患。
可程序PCT老化试验箱规范要求
1、箱内胆采用圆弧设计,复合国家安全容器标准,可以防止试验结露滴水现象，从而避免产品在试验过程中受过热蒸汽直接冲击影响试验结果。
2、配备双层不锈钢产品架,也可根据客户产品规格尺寸免费量身定制专用产品架。
可程序PCT老化试验箱设备参数
型号L:PCT-250、PCT-350、PCT-450、PCT-550、PCT-250 M、PCT-350 M
控制器:微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器
分辨率:温度：0.1压力：指针式0.1
控制稳定度:温度：±0.5℃，湿度：99%
内箱材质:SUS316#不锈钢
外箱材质:高级钢板烤漆或不锈钢（依客户选择）
尺寸（cm）
内箱:Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60 Φ25×D35 Φ30×D45
外箱:W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135W860×H135×D145 W56×H65×D105 W66×H105×D125
温度范围:110℃～132℃ 110℃～147℃
湿度范围:99%RH饱和蒸气
压力范围:表压力+0.2～2.0kg/cm2 表压力+0.2～3.5kg/cm2
加压时间:大约45分钟 大约55分钟
循环方式:水蒸气自然对流循环
可程序PCT老化试验箱设备保护装置
1、误操作安全装置：锅门若未关紧则机器无法启动.
2、超压安全保护：当锅内压力超过工作值自动排气泄压.
3、超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
4、防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
5、PCT老化试验箱手动安全保护排压伐.
参考资料
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1、温度范围 105℃ → +132℃. （控制点） 温度波动度 ±0.5℃.
2、温度偏差 ±2.0℃.
3、湿度范围 75% ～ 100 %r.h . （控制点）
4、湿度波动度 ±2.5 %r.h.
5、湿度均匀度 ±5.0%. -
光伏组件pct老化试验箱试验目的：
1、加速寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度、与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
2、用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分佈函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的塬因所进行的试验。 -
电容薄膜pct老化试验箱熊s测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。 -
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永磁铁氧体可程序pct老化试验箱欢迎有意者选购，货源充足，期待与您的合作!
pct老化试验箱产品性能:
型 号 xl-400
工作室尺寸470×750×460(mm)
温度范围rt+10℃～+90℃(±2℃)
黑板温度范围：rt+10℃～+120℃
湿度范围45～98%r?h(±5%r?h)
