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X荧光光谱分析仪

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X荧光光谱分析仪是一种用于材料科学、冶金工程技术领域的分析仪器,于2011年5月6日启用。

目录

X荧光光谱分析仪技术指标

元素范围:Be4—U92 含量范围:0.0001%—99% 功率≥4kW;电压≥60kV,20-60 kV间1 kV连续可调 电流≥170mA , 5-170 mA间1 mA连续可调 稳定性:当外电压波动±1%时,输出波动≤±0.0001% 角度准确度:≤±0.001° 角度重现性:<±0.0001° 定位方式:θ/2θ分别驱动,光学定位,无机械磨损 检测系统:全真空扫描。[1]

X荧光光谱分析仪主要功能

固体、粉末样品、难溶样品的常量、微量、痕量元素分析测定。[1]
参考资料


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