低温位移系统

可移动行程范围：X,Y轴为20mm,传感器分辨率约为200nm，重复性为1-2um。^[1]

低温位移系统用于在共聚焦系统中作为样品的载台，为样品提供可自由移动的自由度。由于实验中测量的样品中有源区的尺寸都在nm量级（约为60nm），且工作在低温下（约为4K），所以需要使用低温下可以在nm级别移动的位移台。应用方向可以包括给量子点进行荧光表征、SiC缺陷、二维材料、NV色心以及其他固态发光材料进行低温光学测试。^[1]