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数显测厚仪

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超声波数显测厚仪是采用的高性能、低功耗微处理器技术,基于超声波测量原理,可以测量金属及其它多种材料的厚度,并可以对材料的声速进行测量。

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数显测厚仪超声波数显测厚仪

超声波数显测厚仪
可以对生产设备中各种管道和压力容器进行厚度测量,监测它们在使用过程中受腐蚀后的减薄程度,也可以对各种板材和各种加工零件作精确测量。

数显测厚仪技术参数

1.显示方法:高对比度的段码液晶显示,高亮度EL背光;
2.测量范围:0.75~300mm(钢中),公制与英制可选择;
5.示值精度: ±(1%H+0.1)mm H为被测物实际厚度
6.测量周期:单点测量时4次/秒、扫描模式10次/秒;
7.存储容量:可存储20组(每组最多99个测量值)厚度测量数据。
8.工作电压:3V(2节AA尺寸碱性电池串联)
9.持续工作时间:约100小时(不开背光时)
10.外形尺寸:150×74×32 mm 11.整机重量:245g

数显测厚仪数显薄膜测厚仪

数显测厚仪产品用途

数显薄膜测厚仪主要用于测定薄膜、薄片等材料的厚度,测量范围宽、测量精度高,具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。

数显测厚仪技术指标

1.测量范围:(0-25)mm
2.分辨率:0.001mm
3.电源:氧化银电池SR44
4.工作温度:0℃~+40℃
5.储运温度:-20~+70℃
6.相对湿度:≤80%
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