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台式金属分析仪

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台式金属分析仪是一种用于物理学领域的分析仪器,于2005年1月1日启用。

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台式金属分析仪技术指标

分析时仪器功率400VA,待机平均功率100VA;波长范围140nm-680nm,可以满足更多元素的分析需求。双光室光路设计,每个光室都采用了特殊的透镜、光栅和CCD。[1]

台式金属分析仪主要功能

能够测定金属行业需要分析的所有常规元素,分析范围广,短波段分析能力可达140nm。可根据需要选配相应工作曲线,增加分析元素,无需更改硬件配置,实现一机多能。[1]
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