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可见红外扫描显微镜

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可见红外扫描显微镜是一种用于物理学领域的分析仪器,于2017年11月28日启用。

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可见红外扫描显微镜技术指标

1. 激光光源:波长532nm的固体激光器,功率≥3mW,波长1550nm,功率≥100mV;; 2. 光电探测器:可见光PMT波长响应范围优于185-850nm,包含驱动电源及后续信号处理电路;红外PMT波长响应范围900-1660nm,峰值响应波长1550nm,包含驱动电源及后续信号处理电路; 3. 探针扫描探测范围XY≥90µm×90µm;Z≥9µm;样品扫描范围XY≥50µm×50µm; 4. 扫描近场光学显微镜的分辨率≤100nm; 5. 带有XYZ三维传感器的压电陶瓷扫描器,同时具有开环控制和闭环控制的功能; 6. 控制软件与常规光探测器和光谱探测仪器兼容,并具有联用的升级功能,能够实现对选定光波段进行近场扫描成像和形貌成像分析; 7. 视频显微镜:正置显微镜带CCD成像; 8. 倒置显微镜:用于透射信号收集和收集模式激光激发; 9. 可放置样品尺寸直径不小于100mm。[1]

可见红外扫描显微镜主要功能

1.能够实现扫描近场光学显微镜、原子力显微镜的探测、成像,可用于对样品的微区表面近场光学信息、纳米尺度形貌等的检测以及微纳表面结构加工技术研究。 2.具备扫描近场光学显微镜的多种工作模式,如:SNOM收集模式和剪切力模式等; 3.具有原子力显微镜的常用工作模式,如:接触模式、半接触模式、非接触模式、摩擦力显微镜、相位成像模式、力调制模式、磁力显微镜、静电力显微镜、粘附力成像、扫描电容显微镜、扫描开尔文探针显微镜、扩展电阻成像、压电响应力显微镜等。。[1]
参考资料


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