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表面颗粒分析仪

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表面颗粒分析仪是一种用于信息科学与系统科学、物理学、工程与技术科学基础学科、材料科学领域的分析仪器,于2018年05月02日启用。

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表面颗粒分析仪技术指标

激光405nm波长,激光斑点直径≤15um;支持样品尺寸2in、3in、4in、6in和8in;可装载样品的高度1100um;透明样品厚度至少380um;样品固定方式:真空吸附;颗粒直径≥80nm;。[1]

表面颗粒分析仪主要功能

非接触无损伤测量得激光扫描方式,针对半导体行业的晶圆表面缺陷(主要包括微粒、划伤、坑点、水渍、痕迹残留等)的检测及统计分类。[1]
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    技术规范
    烟气水分测量范围 :
    (烟气水分体积百分比) 0…40 vol%
    准确度:
    烟气水分:a.≤5.0%时,误差应不超过≤±1.2%
    b. >5.0%时,相对误差应不超过≤±12%
    烟气温度: ±0.5 ℃(100℃时)
    响应时间(t90)(在流量和压力满足1l/min 和1bar的条件下)
    从高湿到低湿环境:150s
    从低湿到高湿环境:10s
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