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表面颗粒分析仪
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表面颗粒分析仪是一种用于信息科学与系统科学、物理学、工程与技术科学基础学科、材料科学领域的分析仪器,于2018年05月02日启用。
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表面颗粒分析仪
技术指标
激光405nm波长,激光斑点直径≤15um;支持样品尺寸2in、3in、4in、6in和8in;可装载样品的高度1100um;透明样品厚度至少380um;样品固定方式:真空吸附;颗粒直径≥80nm;。
[1]
表面颗粒分析仪
主要功能
非接触无损伤测量得激光扫描方式,针对半导体行业的晶圆表面缺陷(主要包括微粒、划伤、坑点、水渍、痕迹残留等)的检测及统计分类。
[1]
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