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单晶X射线衍射测量仪

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单晶X射线衍射测量仪是一种用于材料科学领域的分析仪器,于2008年1月3日启用。

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单晶X射线衍射测量仪技术指标

X光源:Mo阳极封闭靶光学系统:石墨单色器探测器:Mercury2CCD测角仪:AFC-Simplified固定2θ,固定X。[1]

单晶X射线衍射测量仪主要功能

应用于小分子化合物单晶结构分析。以不同角度的X射线照射单晶样品,用CCD拍摄样品的衍射照片,照片数据经软件解析后得到样品的三维衍射图谱,从而测定化合物的单晶结构。[1]
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